MICROSCOPIA ELECTRONICADE BARRIDO (SEM) GINA PAOLA ESTEVEZ RAMIREZ JUAN CARLOS GALINDO BARON ELIANA KATHERINE MORENO QUEVEDO YINETH PINZON MUÑOZ JEIMY LORENA VALENZUELA MENDIVELSO ESTRUCTURA Y PROPIEDADES DE LOS MATERIALES UNIVERSIDAD INDUSTRIAL DE SANTANDER AGENDA Introducción Características de la SEM Historia de la Microscopia Electrónica de Barrido Fundamentos teóricos Funcionamiento de la SEM Preparación de la muestra Aplicaciones Anexos Conclusiones Bibliografía INTRODUCCIÓN Información morfológica y estructural Imágenes tridimensionales y escalas de grises Tomado: caracterización de materiales con SEM, Parque Tecnológico de Guatigara, Carolina Mendoza CARACTERÍSTICAS Alta resolución Gran profundidad de campo Sencilla preparación de muestras Tomado: caracterización de materiales con SEM, Parque Tecnológico de Guatigara, Carolina Mendoza biografiasyvidas.HISTORIA Tubo de Geisller Tubo de rayos catódicos Ernest Ruska 1934 Haz de electrones (ME) La pantalla fluorescente Efecto de los campos magnéticos sobre el haz electrónico Tomado: www.com . Julián Martínez .FUNCIONAMIENTO Tomado: microscopia electrónica de barrido. FUNDAMENTOS TEÓRICOS Termoiónica EMISOR Emisión de campo . FUNDAMENTOS TEÓRICOS LENTES Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza . FUNDAMENTOS TEÓRICOS El microscopio Quanta FEG 650 utiliza la tecnología de emisión de campo (SchottyFieldEmisssionGun) para la generación del haz de electrones Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza . Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara.FUNDAMENTOS TEÓRICOS INTERACCIÓN DEL HAZ PRIMARIO CON LA MUESTRA Tomado: caracterización de materiales con SEM. Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza . Profundidad de penetración a diferentes valores de voltaje de aceleración del haz. Parque Tecnológico de Guatigara. Tomado: caracterización de materiales con SEM. Carolina Mendoza . Carolina Mendoza .Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. FUNDAMENTOS TEÓRICOS Electrones secundarios Electrones retrodispersados Rayos x . ELECTRONES SECUNDARIOS La excitación de electrones secundarios resulta cuando electrones de la banda de valencias son promovidos a la banda de conducción Tomado: caracterización de materiales con SEM. Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara. ELECTRONES RETRODISPERSADOS Son electrones primarios que han sido deflectados por colisiones con átomos de la muestra. Tomado: caracterización de materiales con SEM. de manera que son regresados a la superficie de la muestra. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza . Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara.GENERACIÓN DE RAYOS X Tomado: caracterización de materiales con SEM. Carolina Mendoza .RAYOS X CARACTERISTICOS Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Tomado: caracterización de materiales con SEM. Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara. ANALISIS QUIMICO EDS Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza . ASPECTOS DEL ESPECTRO EDS Pico de fluorescencia interna Aspectos EDS Suma de picos Picos de fuga . Carolina Mendoza .LIMITACIONES DEL EDS CUANTITATIVO Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. MICROANÁLISIS DE MAPEO Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza . Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara.VARIACIÓN DE TEMPERATURA Tomado: caracterización de materiales con SEM. Carolina Mendoza .VARIACIÓN DE PRESIÓN Y TEMPERATURA Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. PREPARACIÓN DE LA MUESTRA Ausencia de líquidos Muestra conductora Recubrimiento de la muestra . TÉCNICA DE RECUBRIMIENTO CON ORO • SPUTTERING Tomado: microscopia electrónica de barrido. Julián Martínez . TÉCNICA DE RECUBRIMIENTO CON CARBONO • TRANSPARENTE A LOS RAYOS X Tomado: microscopia electrónica de barrido. Julián Martínez . APLICACIONES Geología Estudio de materiales Metalurgia Odontología . Tomado: microscopia electrónica de barrido. Julián Martínez . ESTUDIO DE DUREZA DEFECTO Cu-Al Tomado: microscopia electrónica de barrido. Julián Martínez . Tomado: microscopia electrónica de barrido. Julián Martínez . Tomado: microscopia electrónica de barrido. Julián Martínez . APLICACIONES Paleontología y arqueología Control de calidad Peritajes Medicina forense . Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara.Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza .Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza .Tomado: caracterización de materiales con SEM. Tomado: caracterización de materiales con SEM. Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara. Tomado: caracterización de materiales con SEM. Parque Tecnológico de Guatigara. Carolina Mendoza . Carolina Mendoza . Parque Tecnológico de Guatigara.Tomado: caracterización de materiales con SEM. DESVENTAJAS Elevados costos de los equipos Instalaciones especiales para un buen funcionamiento Costes de reactivos elevados y elevada toxicidad Equipos complejos y fácilmente descalibrables Imágenes monocromáticas y planas siendo necesario manipulación informática . CONCLUSIONES Sirve para visualizar imágenes de superficies de materiales con hasta 200.00 aumentos Distintos tipos de señales proporcionan distinto tipo de información En función del tipo de muestra utilizaremos un tipo de vacío concreto. el cual determinara el tratamiento previo realizado a la muestra . BIBLIOGRAFÍA Introducción a la ciencia de los materiales.itma. M.org.. Albella. Carolina Mendoza . Caracterización de materiales con microscopia electrónica de barrido.es. Holler www.M. J. A. (enciclopedia libre online) Parque tecnológico de GUATIGUARA.Miranda.wikipedia.Skoog. (instituto tecnológico de materiales) www. Cintas. J. T. M. Serratosa ‘Principios de análisis instrumental’ 5°Ed.