ASME B46.1 2002

March 25, 2018 | Author: Suryanarayanan Venkataramanan | Category: Natural Philosophy, Applied And Interdisciplinary Physics, Scientific Method, Nature, Mathematics


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Description

A NA M E R I C A N N A T I O N A L S T A N D A R D SURFACE TEXTURE (SURFACE ROUGHNESS, WAVINESS, AND LAY) ASME B46.1-2002 (Revision of ASME B46.1-1995) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Recommendations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 4. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 4. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Recommendation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . General . . . . . . . . . . . . . . . . Classification Scheme . . . . . . . . . Terminology . . . Calibration Artifacts . . . . . . . . . . . . . . 30 30 30 30 30 30 Section 6 6. . . .1 6. . . . . . . . . . . .1 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1 1 13 Section 2 2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4 Terminology and Measurement Procedures for Profiling. . . . . .6 7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 3. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Scope of Section 4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Scope of Section 6 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 Measurement Techniques for Area Averaging . . . . . . . . . . . . . . . .1 2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .1 4. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .6 7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31 31 31 Section 7 Nanometer Surface Texture And Step Height Measurements By Stylus Profiling Instruments . . . . . . . . . . . . .5 7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Imaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Scope of Section 3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .1 5. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . vii ix x Terms Related to Surface Texture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 5. . . . . . . . . . . . . . . .1 3. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19 19 19 19 23 Section 4 4. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Applicable Document . . . . . . . . .1 7. . . . . . . . . . References .4 5. . . . . . . . . . . . . . . . . . Reports . . Instrumentation . . Definitions Related to Surfaces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . Scope of Section 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 16 16 16 Section 3 3. . . . . . . . . . Correspondence with the B46 Committee . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32 32 32 32 32 34 34 35 Section 1 1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Skidless Instruments . . . . . . . . . . . . . . . .2 2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 1. . . . Scope of Section 7 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .CONTENTS Foreword . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Recommendations . . . . . . .3 5. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25 25 25 25 25 Section 5 5. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 3. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Purpose . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Definitions Related to the Measurement of Surface Texture by Profiling Methods . . . . . . . . . . . . Skidded Instruments . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5 Measurement Techniques for Area Profiling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Scanning Methods . . . . . . . . . . .4 7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4 Measurement Procedures for Contact. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 1. . . . . . . . . . . Contact. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Definitions of Surface Parameters for Area Profiling and Area Averaging Methods . . . . . Preparation for Measurement . . . . .7 iii 2 6 12 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Scope of Section 5 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Examples of Area Averaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Measurement Procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Definitions of Surface Parameters for Profiling Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 Classification of Instruments for Surface Texture Measurement . . Committee Roster . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Definitions Related to the Measurement of Surface Texture by Area Profiling and Area Averaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 9. . . . . . .1 Scope of Section 11 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Profile Peak and Valley . . . . . . . . . . . . . . . . 10. 10. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 References . . .5 9. . . . . . . . . . . . . . . iv 2 2 3 4 5 5 6 7 7 . . . . . . . . . . 49 49 49 52 54 Section 11 Specifications and Procedures for Precision Reference Specimens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Key Sources of Uncertainty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 Definitions Relative to Fractal Based Analyses of Surfaces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 9. . . . . . . . . . .4 9. . . . . . . . . . . . . . . .1 Scope of Section 12 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 Reporting the Results of Fractal Analyses . . . . . . . . . Rp. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Scope of Section 9 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2RC Filter Specification for Roughness . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Illustration for the Calculation of Roughness Average Ra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Description and Definitions: Noncontact Phase Measuring Interferometer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Data Analysis and Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5 Surface Characteristics . . . . . . . . . . . . . . . Surface Profile Measurement Lengths . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .1 8. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .6 Nominal Roughness Grades . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 References . . . . . . . . . References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Rt. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .Section 8 8. . . . . . . . . . . . . Measured vs Nominal Profile . . . . . . . . . . . . . . . . . Scope of Section 8 . . . . . . . . . . . . . . . . . Test Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12. . . . . . . .6 8. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .7 8. . . . . . . . . . . . . . . . . . 12. . . .6 Filtering of Surface Profiles . . . . . . . . . . . . . . .9 Marking . . . . . . . . . . . . . . . . . 12. . 62 62 62 62 62 62 62 62 63 63 Figures 1-1 1-2 1-3 1-4 1-5 1-6 1-7 1-8 1-9 Schematic Diagram of Surface Characteristics . . . . . . . . . . . . Phase Correct Gaussian Filter for Roughness . .3 8. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Examples of Nominal Profiles . . .8 Marking . . . . . . . . . . . . . 12. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5 Physical Requirements . . . . . . . . . Measurement Procedures . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .8 Nanometer Surface Roughness as Measured with Phase Measuring Interferometric Microscopy . 55 55 55 55 55 56 56 57 59 Section 12 Specifications and Procedures for Roughness Comparison Specimens . . . . . . . . . . . . . . . References . . . . . . . . . . . . . . . . 12. .5 8. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41 41 41 41 42 44 47 Section 10 Terminology and Procedures for Evaluation of Surface Textures Using Fractal Geometry . . . . . . . . .7 Mechanical Requirements . . . . . . . . . . 37 37 37 37 37 38 38 39 39 Section 9 9. 11. . . . . . . . . . . . . . 10. . . . . 11. . . . . . . . . . .1 9. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4 Roughness Comparison Specimens . . . . . . . . . . . . 12. . . . . . . . . . . . . . . 11. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .7 Specimen Size. . . . . . . . . . . . .6 Assigned Value Calculation . . . . . . .3 Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Filtering for Waviness . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Form. . 11. . . . . . . . . 11. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .2 8. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Definitions and General Specifications . . . . . . . . . . . 12. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11. . . . . . . . . . . . . . . . . and Lay . .4 Reference Specimens: Profile Shape and Application . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . and Rv Parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Noncontact Phase Measuring Interferometer Instrument Requirements . .3 Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4 8. . .8 Calibration of Comparison Specimens . . . . . . . . . . Filtering a Surface Profile . . . . . . . . . . . 12. Stylus Profile Displayed With Two Different Aspect Ratios . . . . .1 General . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Examples of Profile Distortion Due to Skid Motion . . . . . . . . . . . . . . . . . Demonstration of the Detector Array With Element spacing ⌬ and the Measurement of the Smallest Spatial Wavelength ␭R Covering 5 Pixels . Conical Stylus Tip . . . . . . . . . . . . . and 8. . . . . . The Stylus Tip Contact Distance. . . . . Effects of Various Cutoff Values . . . . . . . . . . . . .5. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ␭L Covering the Total Number (N) Pixels . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Three Surface Profiles With Different Kurtosis . . . . . . . 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A Typical Phase Measuring Interferometer System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Example of a Deviation Curve of an Implemented Filter From the Ideal Gaussian Filter as a Function of Spatial Wavelength . Also Showing the Rpi and Rti Parameters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 0. . . . . . . . . . . . . . . . Used for Calculating Peak Density . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .25. . . . . . . . . . . . . . Classification of Common Instruments for Measurement of Surface Texture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Example of Profile Distortion . . . . . . . . . . . . .8. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Aliasing . . . . . . . . . . . . . . .08. . . . . . . . . . Topographic Map Obtained by an Area Profiling Method . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .1-10 1-11 1-12 1-13 1-14 1-15 1-16 1-17 1-18 1-19 1-20 1-21 1-22 2-1 3-1 3-2 3-3 3-4 4-1 4-2 4-3 4-4 7-1 7-2 7-3 8-1 8-2 8-3 9-1 9-2 9-3 9-4 9-5 9-6 10-1 10-2 10-3 10-4 Surface Profile Containing Two Sampling Lengths. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . The Waviness Height. . . . . . . . . . . . Three Stepping Exercises from a Length-Scale Analysis on a Simulated Profile . . . . . . . . . . Stylus Tip Touching Bottom and Shoulders of Groove . . . . . . . . . . . . . . . . . . An Idealized Log-Log Plot of Relative Length (of a Profile) or Relative Area (of a Surface) Versus the Scale of Observation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5. . . Wt . . . . . . . . . . Demonstration of the Detector Array With Element Spacing ⌬ and the Measurement of the Longest Spatial Wavelength. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . The Peak Count Level. . . . . . . Periodic Surface Showing the Difference in Peak Spacing as a Function of Direction . . . . v 8 8 8 9 9 9 10 10 10 11 13 13 14 17 20 20 21 22 26 27 28 29 33 33 34 38 39 40 42 43 44 45 46 47 49 50 50 51 . . . . . . . . . . . . . . . . . 2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Amplitude Density Function—ADF(z) or p(z) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Showing Multi-Fractal Characteristics and Crossover Scales . . . . . . .25. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . x . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Gaussian Transmission Characteristics Together With the Uncertain Nominal Transmission Characteristic of a 2 ␮m Stylus Radius . . . . . . . . . . RSm . . . . . . . . . . . . . . . . . The Bearing Area Curve and Related Parameters . . . . . . . . Three Surface Profiles With Different Skewness . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . The Rt and Rmax Parameters . . . . . . . . . . Schematic Diagrams of a Typical Stylus Probe and Fringe-Field Capacitance Probe . . . . . .8. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Truncated Pyramid Tip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Area Peaks (Left) and Area Valleys (Right) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Gaussian Transmission Characteristic for the Roughness LongWavelength Cutoff Having Cutoff Wavelengths ␭c p 0. . . . . . . . . . . . . Weighting Function of the Gaussian Profile Filter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .0 mm . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . The Profile Bearing Length . . . . . . . . An Idealized Log-Log Plot of Relative Length or Area Versus the Scale of Observation (Length-Scale or Area-Scale Plot). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Self-Similarity Illustrated on a Simulated Profile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2. . . . . . . . . . and 8. . . . . . . . . Gaussian Transmission Characteristic for the Waviness Short-Wavelength Cutoff or for Deriving the Roughness Mean Line Having Cutoff Wavelengths ␭c p 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . l1 and l2. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .08. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Profile Coordinate System . . . . . . . . Comparison of Profiles Measured in Two Directions on a Uniaxial. . . . .0 mm . . . . . . . . . . . . The Radius of Curvature for a Surface Sine Wave . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Wavelength Transmission Characteristics for the 2RC Filter System . . . . . . The Mean Spacing of Profile Irregularities. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Assessment of Calibrated Values for Type A1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Type A1 Groove . . . . . . . . . . Type C3 Grooves . . . . . . . . . . . G Observations on the Filtering of Surface Profiles . . . Tip Size Estimation From the Profile Graph for Type B1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Allowable Waviness Height Wt for Roughness Calibration Specimens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Type C4 Grooves . . . . . . . . . . . . . . . Form and Lay of Roughness Comparison Specimens Representing Various Types of Machined Surfaces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Tolerances for Types C1 to C4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . Unidirectional Irregular Grooves Having Profile Repitions at 4 mm Intervals . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . C A Review of Additional Surface Measurement Methods . . . . . . Use of Type B3 Specimen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . F Descriptions of Area Averaging Methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Fabricated and Measured With a Scanning Tunneling Microscope at UNCC . . . . . . . . . . . . . Nominal Values of Ra and RSm for Type C2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .10-5 10-6 11-1 11-2 11-3 11-4 11-5 11-6 11-7 11-8 11-9 11-10 11-11 Tables 3-1 3-2 4-1 Four Tiling Exercises From an Area-Scale Analysis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Measurement Cutoffs and Minimum Evaluation Lengths for Instruments Measuring Integrated Roughness Values Over a Fixed Evaluation Length . . . . . . . . . . . . . . . . . . Recommended Ra and RSm Values for Type C1 Specimens . . . . . 65 67 70 76 79 86 89 90 97 4-2 9-1 9-2 9-3 10-1 11-1 11-2 11-3 11-4 11-5 11-6 11-7 11-8 11-9 12-1 12-2 12-3 vi 23 24 25 25 43 47 48 53 56 56 56 57 60 60 61 61 61 62 63 . . . . . Type B1 Grooves: Set of 4 Grooves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Tolerances for Types A1 and A2 . . . . . . . . . . Typical Cutoffs for Gaussian Filters and Associated Cutoff Ratios . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Type C1 Grooves . . H Reference Subroutines . . . . . Example of a Report on Fractal Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Examples of Sampling Lengths for Calibration of Comparison Specimens. . . . . . . D Additional Parameters for Surface Characterization . . . . . . . . . . . . . . . . Nominal Roughness Grades (Ra) for Roughness Comparison Specimens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Cutoff Values for Nonperiodic Profiles Using Ra . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Type A2 Groove . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Nominal Values of Ra for Type C4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . E Characteristics of Certain Area Profiling Methods . . . . . . Type B2 or C2 Specimens With Multiple Grooves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Tolerances for Unidirectional Irregular Profiles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Typical Values for the Waviness Long-Wavelength Cutoff (␭cw) and Recommended Minimum Values for the Waviness Traversing Length . Nominal Values of Depth and Radius for Type A2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10-5 . . . . . . . 52 53 55 55 56 57 57 58 58 59 59 59 60 Cutoff Values for Periodic Profiles Using RSm . . . . . . . . . . . . Measurement Cutoffs and Traversing Lengths for Continuously Averaging Instruments Using Analog Meter Readouts . . . . . . . . . . . . . . mm . . . . . . . . I A Comparison of ASME and ISO Surface Texture Parameters . . . . . . . . . Limits for the Transmission Characteristics for 2RC Long-Wavelength Cutoff Filters . . . . . . . . . . Nominal Values of Depth or Height and Examples of Width for Type A1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . B Control and Production of Surface Texture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64 Nonmandatory Appendices A General Notes on Use and Interpretation of Data Produced by Stylus Instruments . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . An Area-Scale Plot Including the Results of the Tiling Series in Fig. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . Illustrated for a Diamond Coating on a Silicon Substrate. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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